Skip to main content Skip to search

Микро- и наноэлектроника, диагностика нано- и биомедицинских систем

Направление подготовки: 
Форма(ы) подготовки: 
очная
Ведется набор
Язык обучения: 
Русский
Практики (очная форма): 
Нормативный срок обучения очно: 
4 года
Аннотация профиля: 

Направление непосредственно связано с областью науки и техники, в которой изучаются средства, способы и методы человеческой деятельности, направленной на теоретическое и экспериментальное исследование, математическое моделирование, проектирование, конструирование, технологию производства, использование и эксплуатацию электронных структур, приборов и устройств, а также установок вакуумной, плазменной, твердотельной, сверхвысокочастотной, оптической, микро- и наноэлектроники различного функционального назначения.

Бакалавр по направлению «Электроника и наноэлектроника» готовится к профессиональной деятельности с материалами, компонентами, электронными приборами и устройствами, технологическими и измерительными установками, методами их исследования, проектирования и конструирования, математического моделирования и диагностики их свойств, параметров и характеристик, с современным информационным и программным обеспечением моделирования процессов и изделий электроники и наноэлектроники.

Бакалавры по направлению «Электроника и наноэлектроника» востребованы на промышленных предприятиях, конструкторских бюро, в научно-исследовательских организациях, связанных со сферой высоких технологий, наукоемких производств в области электроники и наноэлектроники.

 

 

Направления и результаты научно-исследовательской деятельности: 

Преподаватели и сотрудники, реализующие данную ООП, принимают участие в качестве руководителей, ответственных исполнителей и исполнителей НИР, выполняемых по Госзаданию Министерства образования и науки РФ (базовая и проектная части), российских научных грантов, хоздоговоров с ведущими предприятиями «Роснанотехнологии» РФ, участвуют в организации и проведении Всероссийских научных конференций и Всероссийских научных школ-семинаров, постоянно публикуют материалы своих исследований в ведущих международных и Российских научных журналах, входящих в перечень ВАК и научных журналах, входящих в базы данных WEB of SCIENCE и SCOPUS, выступают с докладами на международных и всероссийских научных конференциях и семинарах,  являются авторами патентов на изобретения и полезные модели, являются стипендиатами Президента РФ.

Студенты, обучающиеся по данной ООП, выполняют курсовые, выпускные квалификационные и индивидуальные исследовательские работы и проекты, тематика которых непосредственно связана с темами НИР, реализуемых научными руководителями. По результатам исследовательских работ студенты в качестве соавторов участвуют в подготовке статей, докладов на научных конференциях, семинарах, конкурсах на стипендию Президента РФ, были стипендиатами Правительства Российской Федерации за достижения в общественной деятельности. Среди наиболее значимых результатов за последние годы можно отметить участие в следующих научных мероприятиях: Всероссийская научная школа-семинар «Взаимодействие сверхвысокочастотного, терагерцового и оптического излучения с полупроводниковыми микро- и наноструктурами, метаматериалами и биообъектами» (посвященная 80-летию образования Саратовской области, 19-20 мая 2016 года, посвященная 70-летию Победы в Великой Отечественной волны, 14-15 мая 2015 года), Ежегодная Всероссийская научная школа-семинар «Методы компьютерной диагностики в биологии и медицине» (5-6 ноября 2015 года, 3-4 ноября 2016 года).

Научно-исследовательские и учебные лаборатории СГУ, в которых студенты, обучающиеся по данной ООП, выполняют свои курсовые, выпускные квалификационные и индивидуальные исследовательские работы и проекты, оснащены современной компьютерной техникой, контрольно-измерительными приборами, лабораторным и технологическим оборудованием, среди которого:

  • Программно-аппаратный комплекс для визуального анализа измерений, мониторинга и трехмерного моделирования топологии поверхностей типа Hirox.
  • Система прецизионного оптического контролируемого позиционирования Hirox КН-7700.
  • ИК Фурье- спектрофотометр высокого разрешения фирмы Шимадзу.
  • Сканирующий зондовый микроскоп AGILENT LS5600.
  • Анализатор спектра серии PSA E4447A
  • Анализатор цепей PNA-L N5230A
  • Генератор СВЧ сигналов AGILENT PSG
  • Зондовая станция JANDEL RMS3000
  • Растровый электронный микроскоп-микроанализатор ASPEX EXpress (ASPEX Corporation, США) с
  • системой пробоподготовки Q150R ES (Quorum Technologies, Великобритания).
  • Аппаратный комплекс автоматизированного проектирования СВЧ-устройств и метаматериалов ANSYS HFSS