Skip to main content Skip to search

Получены свидетельства о регистрации программ для ЭВМ

25 November, 2021 - 13:15

Получены свидетельства о регистрации программ для ЭВМ

Сотрудниками кафедры радиотехники и электродинамики и отдела математического моделирования получены два свидетельства о регистрации программы для ЭВМ. 

Программа «Alcor» предназначена для определения принадлежности углеродных тубулярных нанокластеров и нанокластеров фуллероидного типа к той или группе симметрии. Входными данными для работы программы являются геометрические координаты атомов нанокластеров и матрица связей между атомами. Симметрия кристаллов выявляется с помощью следующих элементов симметрии: центр симметрии (инверсия), плоскости симметрии и оси симметрии. В программе предусмотрена возможность проведения таких операций симметрии как вращение вокруг оси симметрии, отражение в зеркальной плоскости, отражение в плоскости симметрии. В программе реализована система графического отображения топологии нанокластеров.   

Программа «Kview» позволяет по геометрическим параметрам осуществлять построение атомистических моделей углеродных наноструктур различной топологии, в том числе графеновых листов, киральных и акиральных нанотрубок, наноторов. В программе предусмотрена возможность выполнения следующих видов преобразований атомной конфигурации наноструктур: сдвиги в координатном пространстве, поворот на заданный угол, растяжение/сжатие связей между атомами и трансляция по указанному вектору, пассивация водородом. Реализованный в программе модуль отображения информации об объекте предоставляет данные о минимальном и максимальном расстояниях между каждой парой атомов структуры, о координатах и скоростях выделенных атомов структуры.

Программы разработаны в рамках выполнения гранта РНФ № 21-19-00226 «Функциональные разветвленные сети на основе одностенных углеродных нанотрубок, жгутов из них и графеновых моно-/слоистых чешуек для эмиссионной электроники: новые технологические решения и прикладные разработки» и государственного задания FSRR-2020-0004 «Топологическое управление электронными и оптоэлектронными свойствами графен-нанотрубных композитных материалов».