Top.Mail.Ru
Skip to main content Skip to search

Документы

Положение о лаборатории "Материалы специального назначения"
Описание является именем ссылки на файл. Если поле оставить пустым, будет отображено имя прикрепленного документа.
Название файла: document_1.docx
Для того что бы было понятно его содержание, укажите в описании. К примеру  "Отчет за 2011 год"
Положение о лаборатории "Дистанционно управляемые системы для тераностики"
Описание является именем ссылки на файл. Если поле оставить пустым, будет отображено имя прикрепленного документа.
Название файла: document_1.docx
Для того что бы было понятно его содержание, укажите в описании. К примеру  "Отчет за 2011 год"
Положение об ОНИ НС и БС
Описание является именем ссылки на файл. Если поле оставить пустым, будет отображено имя прикрепленного документа.
Название файла: document_1.docx
Для того что бы было понятно его содержание, укажите в описании. К примеру  "Отчет за 2011 год"
Проект Договора на выполнение работ (оказание услуг)
Описание является именем ссылки на файл. Если поле оставить пустым, будет отображено имя прикрепленного документа.
Название файла: document_1.docx
Для того что бы было понятно его содержание, укажите в описании. К примеру  "Отчет за 2011 год"
Приказ о создании ОНИ НС и БС
Описание является именем ссылки на файл. Если поле оставить пустым, будет отображено имя прикрепленного документа.
Название файла: document_1.docx
Для того что бы было понятно его содержание, укажите в описании. К примеру  "Отчет за 2011 год"

9 августа 2013г. состоится семинар на темы "Анализ изотерм сжатия и параметров монослоев фталоцианина", "XPS-метод. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия"

9 августа, 2013 - 14:00

9 августа 2013г. состоится семинар на темы "Анализ изотерм сжатия и параметров монослоев фталоцианина", "XPS-метод. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия"

9 августа 2013г. в 14:00 в конференц-зале ОНИ НСиБС состоится семинар.

Выступают:

  1. Селезнев Михаил: "Анализ изотерм сжатия и параметров монослоев фталоцианина"
  2. Анисимов Роман: "XPS-метод. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия"