Методами атомно-силовой микроскопии (АСМ) показано изменение клеточной стенки
E.coli под воздействием Цефазолина-АКОС. С использованием режимов прерывистого и непрерывного контакта установлено, что повреждающее действие антибиотика Цефазолин-АКОС отмечено через 30 мин экспозиции. Физические показатели позволяют получать более полную информацию о воздействии антибиотика на микроорганизмы.
Alteration of E.coli cell wall caused by Cefazolin-AKOS was observed atomic force microscopy (AFM).Using semi-contact and contact modes the damaging effect of the Cefazolin-AKOS antibiotic was shown after a 30 minutes exposure. The assessment of physical parameters of cell allow to get more detailed information on the
effect of antibiotics on microorganisms.
Физика
Ключевые слова:
АСМ, полуконтактный режим, контактный режим, микроорганизмы, антибактериальные препараты,
шероховатость, сила адгезии, распределение латеральных характеристик, чувствительность.
AFM, semi-contact mode, contact mode, microorganisms, antibacterial agents, roughness, adhesion force, distribution lateral characteristics, sensitivity
Начальная страница:
28
Последняя страница:
33
УДК:
579.23:53.086:615.281
Application of Atomic Force Microscopy for Detection of Influence of Antibiotic Upon the Microbial Cell (on the Model of E.coli and I Generation Cephalosporins)
