Skip to main content Skip to search

Вы здесь

2024/25 уч.г. 1 сем., часть 1

Университет

  • пн
  • вт
  • ср
  • чт
  • пт
  • сб
ПонедельникВторникСредаЧетвергПятницаСуббота
08:20
09:50
10:00
11:35
12:05
13:40
лек.
8 корп. ауд. 322
4,4гр. (4/до)
лек.
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
8 корп. 322 ауд.
4,4гр. (4/до)
13:50
15:25
пр.
8 корп. ауд. 322
4гр. (4/до)
лаб.
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
8 корп. 322 ауд.
4гр. (4/до)
15:35
17:10
лаб.
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
8 корп. 322 ауд.
4гр. (4/до)
пр.
8 корп. ауд. 322
4гр. (4/до)
17:20
18:40
знам.
пр.
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
8 корп. 322 ауд.
4,4гр. (4/до)
знам.
пр.
8 корп. ауд. 322
4,4гр. (4/до)
18:45
20:05
20:10
21:30

Извините, но архив сессии за данный период не заполнен